FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 240
X 射線螢光鍍層測厚及材料分析儀 , 用於非破壞性測量鍍層厚度及分析材料成分
簡介
FISCHERSCOPE X-RAY XULM 是一款性能卓越、設計紮實、應用廣泛的 X 射線螢光鍍層測厚及材料分析儀。常用於非破壞性測量細小工件上的鍍層厚度和材料分析。特別適合在品量管控、進料檢驗及生產過程控制中測量使用。
典型的應用領域有：
- 對十分微小零組件、拔插元件和線材進行測量
- 在印刷電路板上進行手動測量
- 針對珠寶和手錶業中需求的測量
比例接收管能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。正如所有的 FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，本款儀器有著出色的精確性以及長期的穩定性，這樣就明顯減少了校準儀器所需的時間和精力。
依靠 FISCHER 的完全基本參數法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固、液態樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。
XULM 240 型儀器配備有微聚焦 X 射線管以及可電動切換的準直器和基本濾片，因此更適合對微小零件進行測量。
設計理念
FISCHERSCOPE X-RAY XULM 儀器是用戶界面友好的桌上型測量儀。根據用戶不同的使用需求，其配置了手動 XY 軸工作台，用於微小樣品的精確定位。
為了樣品定位簡單快捷，X 射線發射器和比例計數管都整合在儀器下部空間中，因而樣品的底部是實際被測量面，樣品則由一層透明的薄膜托放在測量室中。
雖然儀器採用了緊實設計，但是其配置的超大測量室，使得對大型工件的測量也是同樣的得心應手。
所有的儀器操作，以及測量數據的計算和測量數據報表的清晰顯示，都可以通過功能強大而界面友好的 WinFTM® 軟體在電腦上完成。
FISCHERSCOPE XULM 240 完全滿足 DIN ISO 3497 標準和 ASTM B 568 標準。作為受完全保護的儀器，其型式許可符合德國 “Deutsche Röntgenverordnung-RöV“ 法規的規定。
總體規格
設計用途
能量色散型 X 射線螢光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF) ，用於非破壞性測量鍍層厚度及分析材料成分
可測量元素範圍
最多可同時測定從氯 （17）到鈾 （92）中的 24 種元素 ( 使用選配的 WinFTM® BASIC 軟體時 )
形式設計
桌上型儀器，測量門向上開啟
測量方向
由下往上
X 射線發射源
- 鈹膜窗口的微聚焦鎢靶射線管
- 三種模式：30 kV、40 kV、50 kV
- 孔徑（準直器）標準型（523-440）：
圓形 Ø 0.1 mm；Ø 0.2 mm ；
方形 0.05 x 0.05 mm；
長方形 0.2 x 0.03 mm - 可選型（523-366）：
圓形 Ø 0.1 mm；Ø 0.2 mm；Ø 0.3 mm；
長方形 0.3 x 0.05 mm - 可選型（524-061）：
圓形 Ø 0.1 mm；Ø 0.2 mm；
長方形 0.3 x 0.05 mm；
正方形 0.05 x 0.05 mm - 基本濾片：3 種（鎳、無、鋁）
- 測量點尺寸：最小約 Ø 0.1 mm
X 射線接收
- 比例接收管
- 測量距離 0 … 25 mm（使用專利 DCM 補償）
樣品定位
樣品放置：手動
顯像系統：高解析度 CCD 彩色攝影鏡頭，可沿初級 X 射線光束方向手動對焦
十字線（帶刻度與測量點尺寸）
LED 可調照明
放大倍率：40x – 160x
電腦需求
Windows®-PC
標配：WinFTM® LIGHT
選配：WinFTM® BASIC，PDM®, SUPER
工作台
- 形式設計：手動 XY 軸工作台
- 樣品放置可用區域：310 x 320 mm
- X/Y 軸移動範圍：30 x 40 mm
- 最大重量：2 kg
- 最大高度：174 mm
電源規格
- 交流 110 V 60 Hz
- 最大 120 W（不包括電腦功耗）
- 防護等級：IP40
尺寸規格
- 外部尺寸：403 x 588 x 444 mm
- 重量：約 45 kg
環境要求
- 使用溫度：10 °C – 40 °C
- 存放 / 運輸溫度：0 °C – 50 °C
- 相對濕度 ≤ 95%，無凝結
符合規範
- CE 合格規範：EN 61010
- X 射線規範：DIN ISO 3497 和 ASTM B 568
- 形式認證：符合德國 RöV 法規
訂貨號
FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240 604-770
可按要求，提供額外的 XULM 產品更改和 XULM 儀器技術咨詢